Hochgenaue und berührungslose Vermessung
der Topologie von sphärischen und asphärischen Optiken
mit der Luphos MWLI^®-Technologie.

Die Mehrwellenlängeninterferometrie ist die neue Möglichkeit
der schnellen, flexiblen und nanometergenauen Vermessung
von Linsen, Spiegeln und Präzisionsbauteilen.

Die Luphos-Sensorik bietet Ihnen:

• berührungsloses, schnelles & hochpräzises Messen
• Nanometergenauigkeit
• einen großen Arbeitsabstand & Messbereich auf polierten & rauhen Oberflächen
• eine sehr gute Integrierbarkeit
• simultane Messungen (Multi-Sensor-Einheit)