MWLI-Messverfahren

 

Das MWLI®-Messverfahren beruht auf der simultanen Auswertung der Phaseninformation zweier oder mehrerer Wellenlängen, die, am Messobjekt reflektiert, mit einem intern reflektierten Signal überlagert werden (Interferometer).

Durch die Verrechnung der Phaseninformation der unterschiedlichen Wellenlängen miteinander ergibt sich eine „künstliche“ Wellenlänge, die den Eindeutigkeitsbereich der Phasenbestimmung um ein Vielfaches streckt.

Die Genauigkeit der Messung bleibt jedoch hierbei durch die Bestimmung der Phasenlage einer einzelnen Wellenlänge erhalten.

Verfahren

Das von der Firma Luphos entwickelte
Mehr-WellenLängen-Interferometer (MWLI®) ermöglicht eine hochpräzise Abstandsbestimmung. Die Vorteile des MWLI-Verfahrens sind:

Klein und leicht
Der Sensorkopf des MWLI® ist robust und nur wenige Gramm schwer. Mit seinen Abmessungen von nur 18X40mm läßt er sich leicht und flexibel in eine Vielzahl von Anwendungen integrieren.

Berührungslos
Die Messung erfolgt optisch bei einer Wellenlänge von ca. 1560nm mit einer geringen Lichtleistung. Damit ist eine Beschädigung des Prüflings ausgeschlossen.

Schnell
Durch die Samplingfrequenz im kHz-Bereich lassen sich dynamische Messungen realisieren.

Genau und absolut
Die Mehrwellenlängeninterferometrie ermöglicht hochgenaue Messungen mit Nanometer-Präzision in einem Eindeutigkeitsbereich bis zu 2mm. Durch die Verwendung mehrerer unterschiedlicher Wellenlängen lässt sich der Abstand im Eindeutigkeits-bereich absolut bestimmen. Ein „Zählen“ von Interferenz-streifen entfällt hierbei und selbst durch eine Unterbrechung des Messstrahls während der Messung geht die Information über den Abstand nicht verloren.

Großer Messbereich
Über den Eindeutigkeitsbereich hinaus kann der Messbereich einer kontinuierlichen Messung mehrere Zentimeter betragen. Damit ist die Vermessung von Objekten mit großer Höhendifferenz auch ohne Nachführen des Sensors möglich.

Messung von polierten und rauen Oberflächen
Das MWLI®-Verfahren erlaubt eine Vermessung von polierten sowie auch rauen Oberflächen mit dem gleichen Sensorkopf.

 

Copyright © 2006 - 2012 by Luphos GmbH